产品中心

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MCU老化设备

使用领域：
应用于车载MCU老化测试；

主要功能：
1.主要用于对车载服务器成品或半成品进行老化测试；
2.测试治具可以实现快换；
3.测试环境采用风扇控温,控温精度±5°；
4.电气接口自动对插；

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规格：
1.设备外型尺寸：5300*1000*1650mm；
2.设备通过五个单独机架拼接组成，每套可放置8个测试模组，共有40个测试穴位；

咨询热线：0755-85263900

地址：深圳市龙华新区观湖街道五和大道308号侨安科技工业园C栋